KAM 高度键帽的设计与信息

KAM键帽高度是Keyreative在2018年2月开始设计的等高键帽，对于特殊layout的键盘具备极强的兼容性。
这种高度是取自Keyreative设计的KAT中的R2行演化而来。

在设计之初，市面上竞品只有DSA高度键帽，所以以下数据皆与DSA高度作为对比。

 

尺寸

• 底框尺寸：
  底部外框尺比DSA键帽大了0.1mm（另：Cherry为18.2mm，OEM为18mm），装配到键盘后，键帽间隙更小，关系更加密切；正刻面积也增加了0.45mm，适度的面积增大既增加确认率，又不会提高误触率。

• 键帽侧壁厚度：
  1.65mm

• 高度：
  取自KAT的R2行，高度为9.05mm

• 兼容性：
  囊括了 1u，1.25u.......（罗列出所有的长度）可以适配绝大多数的键盘。

• 表面处理：
  我们为KAM制作了亮面及哑光两种模具，这也是全球首款亮面PBT键帽。 得益于PBT的物理特性，及时是亮面键帽，也保持了干脆的手感。

配合Keyreative的热升华plus工艺，印刷效果非常清晰。

 

信息聚合

• 材质及工艺

• 厚度数据

 

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